Drive

UT110-UFD1

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UT110-UFD1

採用先進 LDPC ECC 錯誤校正引擎與 3D NAND Flash，提升資料可靠性與產品穩定性
全區平均抹寫技術 (Global Wear Leveling)
快閃記憶體壞區管理
4K Page Mapping
斷電保護管理技術
S.M.A.R.T.
Hyper Cache 快取技術
Smart Read Refresh™

高速 USB 傳輸效能．工業級可靠性 ─ 探索 UT110-UFD1

Apacer UT110-UFD1 是專為工業與嵌入式系統打造的新一代嵌入式 USB 快閃儲存裝置。支援 USB 3.2 Gen1 SuperSpeed 規範，提供最高 5 Gb/s 傳輸頻寬與最高 265 MB/s 循序讀取效能，並向下相容 USB 2.0 與 USB 1.1。採用 3D NAND Flash，相較於傳統 2D NAND 擁有更佳的電源效率，並可與標準 Embedded USB 介面無縫整合。

UT110-UFD1 透過智慧化快閃記憶體管理機制與堅固的硬體設計，提供長期穩定的系統運作。其精巧的金屬外殼可有效提升產品耐用性，並強化抗機械衝擊、環境耐受性及 ESD 靜電防護能力。

升級嵌入式儲存效能，選擇 Apacer UT110-UFD1 ─ 專為高速傳輸、高效率與穩定運作打造的高效能 USB 快閃儲存裝置。

SuperSpeed USB 介面：支援最高 5 Gb/s 傳輸頻寬與 265 MB/s 循序讀取效能。
LDPC ECC 錯誤校正技術：提升資料正確性，延長 Flash 使用壽命。
工業級耐用設計：精巧金屬外殼，提供更優異的機械防護、環境耐受性及 ESD 靜電防護能力。

搭載多項智慧技術，全面提升耐用性、資料完整性與長期可靠性

智慧快閃記憶體管理：整合 Wear Leveling、Bad Block Management 與 S.M.A.R.T. ，即時監控 NAND 使用效率並延長使用壽命。
資料保護機制： Power Failure Management 有效降低突發斷電造成資料損毀的風險。
效能最佳化技術：結合 Hyper Cache、Smart Read Refresh、Page Mapping與硬體 ECC，確保產品全生命週期皆能維持穩定效能。

結合 USB 3.2 Gen1 高速傳輸效能、智慧化快閃記憶體管理與工業級耐用設計，Apacer UT110-UFD1 為工業自動化、嵌入式運算、影像系統及企業應用提供可靠且穩定的嵌入式儲存解決方案。

規格表

Model

UT110-UFD1
Interface

USB 3.2 Gen1
Connector

USB Type-A
Form Factor

USB Flash Drive
NAND Flash Type

3D TLC
Capacity

64GB~256GB
External DRAM

No
Sequential Read Performance (MB/sec)

Up to 265
Sequential Write Performance (MB/sec)

Up to 190
ECC Engine

Low-Density Parity-Check (LDPC) Code
IOPS (4K Random Write)

1000
Standard Operating Temperature (°C )

0 ~ 70
Storage Temperature(°C )

-55 ~ +100
Housing

Yes
Shock

Operation: 50G/11ms
(compliant with MIL-STD-202G)
Non-operation: 1500G/0.5ms
(compliant with MIL-STD-883K)
Vibration

Operation: 7.69 Grms, 20~2000 Hz/random
(compliant with MIL-STD-810G)
Non-operation: 4.02(Grms), 15~2000(Hz)/random
(compliant with MIL-STD-810G)
Operating Voltage

5.0 V ± 5%
Power Consumption

Active mode: 215 mA; Idle mode: 80 mA
Dimension (L x W x H )

46.85 x 17.20 x 7.70 (mm)
MTBF (hours)

>3,000,000