Drive

UH110-UFD7

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UH110-UFD7

采用先进LDPC ECC引擎结合3D NAND SLC-liteX 技术，提升可靠度
全区平均抹写技术 (Global Wear Leveling)
闪存坏区管理
4K Page Mapping
断电管理
S.M.A.R.T.功能
支持SMART Read Refresh™ 技术
SLC-liteX 技术

工业级USB：UH110-UFD7

Apacer 宇瞻科技 UH110-UFD7 是新一代 Type-C 工业级USB随身碟，符合新一代USB 3.2 Gen1 (SuperSpeed) 规范，最高传输速率达 5 Gbps，提供275 MB/s 疾佳效能与超低耗能，且向下兼容于USB 2.0 和 USB 1.1接口。
UH110-UFD7 采用3D NAND闪存，最大支持容量达64GB，具备优于2D NAND的省电效率，是取代传统IDE硬盘的最佳选择之一。UH110-UFD7 不仅搭载先进的LDPC (Low Density Parity Check) ECC 引擎，有效提升SSD耐用度与数据可靠度；更采用Apacer SLC-liteX技术，提供高达30,000次写入/抹除次数(P/E cycles)的优异表现。此外，UH110-UFD7 采用全新的Page Mapping 闪存管理技术，并具有各种实用功能，包括强大的硬件ECC引擎、平均抹写技术(Wear Leveling)、闪存坏区管理、S.M.A.R.T.、断电管理与Smart Read Refresh™技术。
经过严苛产品测试，搭载体积精巧、轻薄时尚的Type-C 接口接头，UH110-UFD7 可为便携设备与多元的新世代Type-C 应用，提供疾佳的工业级USB产品选择。

规格表

型号

UH110-UFD7
介面

USB 3.2 Gen1
接口

USB Type-C
板型

USB Flash Drive
NAND 颗粒

3D TLC
容量

32GB~64GB
读取速度(MB/sec)

Up to 275
写入速度(MB/sec)

Up to 195
ECC纠错功能

Low-Density Parity-Check (LDPC) Code
IOPS (4K 随机写入)

1500
标准作业温度(°C)

0 ~ + 70
最高作业温度(°C)

-40 ~ + 85
放置温度(°C)

-55 ~ + 100
外壳

Yes
硬件写保护

No
冲击耐力

Operation: 50G/11ms
(compliant with MIL-STD-202G)
Non-operation: 1500G/0.5ms
(compliant with MIL-STD-883K)
震动耐力

Operation:7.69 Grms, 20~2000 Hz/random
(compliant with MIL-STD-810G)
Non-operation:4.02 Grms, 15~2000 Hz/random
(compliant with MIL-STD-810G)
电压

5.0 V ± 5%
用电量

Active mode: 190 mA; Idle mode: 85 mA
尺寸 (L x W x H )

43.00 x 18.90 x 7.90 mm
MTBF (小时)

>3,000,000