UH110-UFD2
Drive
UH110-UFD2
- 采用先进LDPC ECC引擎结合3D NAND闪存,提升可靠度
- 全区平均抹写技术 (Global Wear Leveling)
- 闪存坏区管理
- 闪存转换层:Page Mapping
- 断电管理
- S.M.A.R.T.功能
- SLC-liteX
- SMART Read Refresh™ 技术
Apacer 宇瞻科技UH110-UFD2 为新世代兼容于USB 3.2 Gen1 超高速的工业级U盘,最高传输速率可达5Gb/s,且向下兼容于USB2.0和USB1.1介面,符合USB 3.2规范,可提供高达270 MB/s 的出色性能,是取代传统IDE硬碟的最佳选择之一。
采用3D NAND 并提供比2D NAND 更高的效能,UH110-UFD2不仅采用LDPC(低密度奇偶校验)ECC 引擎来延长SSD 耐用性和提高数据可靠性,且具备SLC-liteX技术,提供高达30,000次写入/抹除次数(P/E cycles)的优异表现。同时,UH110-UFD2具有最高的耐用性和坚固性。通过特殊的 Chip-On-Board (COB) 封装技术,可让珍贵文件得到安全存储,并始终防尘、防水和防震。
在闪存管理方面,UH110-UFD2采用最新的Page Mapping 进阶闪存管理技术及各种实用功能,包括强大的硬体ECC引擎、平均抹写技术(Wear Leveling)、闪存坏区管理、S.M.A.R.T.功能、断电管理、和SMART Read Refresh™等。 UH110-UFD2具多样的扩展功能及成本效益的设计,提供优异的性能及高可靠度,非常适合嵌入式快闪储存应用。
规格表
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型号UH110-UFD2
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介面USB 3.2 Gen1
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接口USB Type-A
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板型USB Flash Drive
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NAND 颗粒3D TLC
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容量16GB
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读取速度(MB/sec)Up to 270 MB/sec
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写入速度(MB/sec)Up to 125 MB/sec
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ECC纠错功能Low-Density Parity-Check (LDPC) Code
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IOPS (4K 随机写入)1600
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标准作业温度(°C)0 ~ + 70
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放置温度(°C)-40 ~ + 100
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外壳Yes
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冲击耐力Operating: Acceleration, 50(G)/11(ms)/half sine
(compliant with MIL-STD-202G)
Non-operating: Acceleration, 1500(G)/0.5(ms)/half sine
(compliant with MIL-STD-883K) -
震动耐力Operation:7.69 Grms, 20~2000 Hz/random
(compliant with MIL-STD-810G)
Non-operation:4.02 Grms, 15~2000 Hz/random
(compliant with MIL-STD-810G) -
电压5.0 V ± 5%
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用电量Active mode: 125 mA; Idle mode: 55 mA
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尺寸 (L x W x H )23.10 x 14.25 x 6.90 mm
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MTBF (小时)>3,000,000